Avancerad avbildning och mikroanalys
Om utbildningen
Syftet med den här kursen är att ge en grundläggande kunskap om fysiken bakom moderna avbildnings- och mikroanalystekniker som bygger på växelverkan mellan en stråle av energetiska elektroner eller joner med fast materia, och att skapa en förståelse för hur olika signaler som genereras i de här processerna kan tolkas i termer av ett materials struktur på atomär nivå och på nano- och mikroskala.
Kursen kommer också att ge praktisk erfarenhet av modern instrumentering som bygger på de avbildnings- och mikroanalystekniker som diskuteras. Teknikerna som diskuteras i kursen är kraftfulla verktyg som används inom forskning och utveckling inom materialområdet, i både industri och akademi.
Kursen utgör en grund för specialinriktade kurser inom, till exempel, experimentell fysik, materialfysik och nanovetenskap.
Behörigheter och urval
Förkunskapskrav
Kandidatexamen i fysik eller motsvarande. Sökande måste påvisa kunskaper i engelska: engelska 6/engelska B från svenskagymnasiet, eller motsvarande nivå av ett internationellt erkänt test, till exempel TOEFL,IELTS.
Urval
Högskolepoäng, max 165 hp.
