Till sidans topp

Sidansvarig: Webbredaktion
Sidan uppdaterades: 2012-09-11 15:12

Tipsa en vän
Utskriftsversion

ToF-SIMS Studies of Sulfu… - Göteborgs universitet Till startsida
Webbkarta
Till innehåll Läs mer om hur kakor används på gu.se

ToF-SIMS Studies of Sulfuric Acid Hydrate Films

Artikel i vetenskaplig tidskrift
Författare John S. Fletcher
Alex Henderson
Andrew B. Horn
John C. Vickerman
Publicerad i Journal of Physical Chemistry B
Volym 108
Nummer/häfte 19
Sidor 5960–5966
ISSN 1520-6106
Publiceringsår 2004
Publicerad vid
Sidor 5960–5966
Språk en
Ämneskategorier Analytisk kemi, Meteorologi och atmosfärforskning

Sammanfattning

A variety of sulfuric acid hydrate films, formed by the co-deposition of SO3 and H2O on a cooled substrate, have been analyzed using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS). The films were produced using procedures developed in recent infrared spectroscopic studies. Spectra have been shown to consist of a series of identifiable fragments, the change in intensities of which can be related to changes in temperature and the relative abundance of H2O during the deposition of the film under UHV conditions. Depth profiling of the films shows clear evidence of separate surface species on some films and supports the existence of surface molecular hydrates over a stable bulk hydrate film

Sidansvarig: Webbredaktion|Sidan uppdaterades: 2012-09-11
Dela:

På Göteborgs universitet använder vi kakor (cookies) för att webbplatsen ska fungera på ett bra sätt för dig. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor.  Vad är kakor?