Till sidans topp

Sidansvarig: Webbredaktion
Sidan uppdaterades: 2012-09-11 15:12

Tipsa en vän
Utskriftsversion

Effects of Cryogenic Samp… - Göteborgs universitet Till startsida
Webbkarta
Till innehåll Läs mer om hur kakor används på gu.se

Effects of Cryogenic Sample Analysis on Molecular Depth Profiles with TOF-Secondary Ion Mass Spectrometry

Artikel i vetenskaplig tidskrift
Författare Alan M. Piwowar
John S. Fletcher
Jeanette Kordys
Nicholas P. Lockyer
Nicholas Winograd
John C. Vickerman
Publicerad i Analytical Chemistry
Volym 82
Nummer/häfte 19
Sidor 8291-8299
Publiceringsår 2010
Publicerad vid
Sidor 8291-8299
Språk en
Ämneskategorier Analytisk kemi
Sidansvarig: Webbredaktion|Sidan uppdaterades: 2012-09-11
Dela:

På Göteborgs universitet använder vi kakor (cookies) för att webbplatsen ska fungera på ett bra sätt för dig. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor.  Vad är kakor?