Till sidans topp

Sidansvarig: Webbredaktion
Sidan uppdaterades: 2012-09-11 15:12

Tipsa en vän
Utskriftsversion

TOF-SIMS analysis using C… - Göteborgs universitet Till startsida
Webbkarta
Till innehåll Läs mer om hur kakor används på gu.se

TOF-SIMS analysis using C-60- effect of impact energy on yield and damage

Artikel i vetenskaplig tidskrift
Författare John S. Fletcher
X. A. Conlan
E. A. Jones
G. Biddulph
N. P. Lockyer
J. C. Vickerman
Publicerad i Analytical Chemistry
Volym 78
Nummer/häfte 6
Sidor 1827-1831
ISSN 0003-2700
Publiceringsår 2006
Publicerad vid
Sidor 1827-1831
Språk en
Länkar doi.org/10.1021/ac051624w
Ämneskategorier Analytisk kemi
Sidansvarig: Webbredaktion|Sidan uppdaterades: 2012-09-11
Dela:

På Göteborgs universitet använder vi kakor (cookies) för att webbplatsen ska fungera på ett bra sätt för dig. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor.  Vad är kakor?