Till sidans topp

Sidansvarig: Webbredaktion
Sidan uppdaterades: 2012-09-11 15:12

Tipsa en vän
Utskriftsversion

Kelvin Probe Force Micros… - Göteborgs universitet Till startsida
Webbkarta
Till innehåll Läs mer om hur kakor används på gu.se

Kelvin Probe Force Microscopy Study of LaAlO3/SrTiO3 Heterointerfaces

Artikel i vetenskaplig tidskrift
Författare Vladimir Popok
Alexei Kalaboukhov
Robert Gunnarsson
Segey Lemeshko
Tord Claeson
Dag Winkler
Publicerad i Journal of Advanced Microscopy Research
Volym 5
Nummer/häfte 1
Sidor 26-30
ISSN 2156-7573
Publiceringsår 2010
Publicerad vid Institutionen för fysik (GU)
Sidor 26-30
Språk en
Länkar dx.doi.org/10.1166/jamr.2010.1020
Ämnesord Kelvin Probe Force Microscopy; LaAlO 3/SrTiO 3 Heterointerface
Ämneskategorier Ytor och mellanytor, Elektronstruktur, Defekter och diffusion, Materialfysik med ytfysik

Sammanfattning

Surface potential distributions in ultra-thin (0.8-3.9 nm) LaAlO3 layers deposited on SrTiO3 substrates are studied. It is found that the potential distribution evolves from island-like to a homogeneous one with increasing LaAlO3 thickness. It is suggested that the observed islands are caused by a locally enhanced concentration of mobile charge carriers at the interface that is, in turn, related to non-stoichiometry of the layers with thickness bellow 4 unit cells. Transition to a homogeneous potential distribution with increasing LAO thickness (≥4 unit cells) corresponds to the formation of a quasi-2-dimensional electron gas. The results agree with a percolation model explaining the insulator-to-metal transition that occurs at the LaAlO3/SrTiO3 heterointerface.

Sidansvarig: Webbredaktion|Sidan uppdaterades: 2012-09-11
Dela:

På Göteborgs universitet använder vi kakor (cookies) för att webbplatsen ska fungera på ett bra sätt för dig. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor.  Vad är kakor?